发明名称 电路检测之方法
摘要
申请公布号 TWI351525 申请公布日期 2011.11.01
申请号 TW097104360 申请日期 2008.02.04
申请人 育霈科技股份有限公司 新竹縣湖口鄉新竹工業區光復北路65號 发明人 胡玉山;胡迪群
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 江国庆 台北市光复北路11巷46号11楼
主权项 一种电路检测之方法,包含:提供一具有导线和一光阻层之基底;以及在该光阻层形成之后且在该光阻层移除之前,形成一对比金属层于该导线上而不形成该对比金属层于该光阻层之上,进而加强该导线以及一邻接区域之对比,以利该电路之检测。
地址 新竹县湖口乡新竹工业区光复北路65号
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