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一种测试插座，该测试插座系建构成可达成一受测之积体电路元件的引线到一负载板的端子之电连接；其包含：一壳体，该壳体上具有一或多数对应受测积体电路元件之同侧引线的测试区，各测试区具有多个大致平行的槽缝；多数导电的探针，各探针可收纳于壳体一槽缝内，各探针系由概成薄片状之本体构成，本体底缘具有一能与负载板端子电连接的平贴底面，又本体其中一侧缘具有一平贴立面，该平贴立面能贴抵于前述壳体槽缝对应的一墙面，又探针之本体异于平贴立面的侧缘形成有一圆形嵌卡孔，嵌卡孔具有一宽度小于其直径之开口，再者探针之本体由嵌卡孔下缘处斜向向上延伸有一能伸出壳体一顶面的弧弯悬臂，且弧弯悬臂顶段具有一能与受测积体电路元件之引线电连接的电触段；一或多数弹性体，各弹性体系沿一对应测试区、且大致垂直于该槽缝的轴线延伸通过该壳体，令同一测试区之探针能以利用该弹性体压制于壳体的对应槽缝内；藉此，使探针的弧弯悬臂受压后能向下弯曲产生回复预力，且探针受平贴立面能贴抵于槽缝墙面，不致作动探针滑动，而组构成一结构简单、且可确保电连接效果的测试插座结构者。 |
