发明名称 |
不纯物导入层之形成方法及被处理物之洗净方法与不纯物导入装置及设备之制造方法 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI351708 |
申请公布日期 |
2011.11.01 |
申请号 |
TW093125524 |
申请日期 |
2004.08.26 |
申请人 |
松下電器產業股份有限公司 日本 |
发明人 |
佐佐木雄一朗;冈下胜己;水野文二;伊藤裕之;金成国;田村秀贵;中山一郎;奥村智洋;前嶋聪 |
分类号 |
H01J37/317;H01J37/248 |
主分类号 |
H01J37/317 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
一种不纯物导入层之形成方法,包含有下述步骤:形成步骤(a),系于半导体基板上形成抗蚀层图案者;导入步骤(b),系将前述抗蚀层图案作为光罩,并藉由使用含有不纯物之气体之电浆掺杂法,将前述不纯物导入前述半导体基板者;除去步骤(c),系于前述步骤(b)后,除去前述抗蚀层图案者;洗净步骤(d),系于前述步骤(c)后,洗净前述半导体基板者;及活性化步骤(e),系于前述步骤(d)后,将前述半导体基板进行热处理,使前述不纯物活性化者。 |
地址 |
日本 |