发明名称 PROBE APPARATUS USED FOR TESTING LIGHTING OF A DISPLAY PANEL
摘要 <p>본 발명은 탄성력 및 연성인쇄회로기판을 이용하여 점등 검사를 수행하는 프로브 장치에 관한 것이다. 상기 프로브 장치는 평판 형상의 전극 바디부 및 상기 전극 바디부의 일종단으로부터 돌출된 적어도 하나의 프로브 전극을 가지는 전극 구조물 및 상기 전극 구조물 위에 배열되며, 탄성력을 가지는 탄성 구조물을 포함한다. 여기서, 상기 프로브 전극은 상기 디스플레이 패널의 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 전극 구조물은 연성인쇄회로기판(FPCB)이다.</p>
申请公布号 KR101077277(B1) 申请公布日期 2011.10.27
申请号 KR20090105942 申请日期 2009.11.04
申请人 发明人
分类号 G01R1/073;G02F1/13;H01L21/66 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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