存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法

摘要

本发明提出一种存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法，该存储装置包括一个待测存储器、一个减少测试针脚装置、以及一个自我测试器。此减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出该待测存储器的一错误地址。而此自我测试器用于在高熔丝后(post-fuse)测试阶段检验该待测存储器是否发生错误。使用本发明的存储装置可快速找出待测存储器中有问题的存储单元的位置，以利高熔丝阶段时进行修复。此外本发明具有减少测试存储器时所需的测试针脚的特性，因此可降低测试设备的成本与增进存储器测试的效能。

主权项

一种存储装置，其特征在于，所述存储装置包括：一待测存储器；一减少测试针脚装置，所述减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出所述待测存储器的一错误地址，所述减少测试针脚装置包含有：一解多任务器，控制所述待测存储器的多个输入端，用以输入一测试数据；以及一验证器，耦接所述待测存储器的多个输出端，用以验证所述待测存储器的一输出结果；一自我测试器，用于在高熔丝后测试阶段检验所述待测存储器是否发生错误；以及一选择器，用以选择所述减少测试针脚装置或所述自我测试器来检测所述待测存储器。