发明名称 间歇回转自动测量机构
摘要 一种间歇回转自动测量机构,它主要包括:底座、固定在所述底座上的测量架、固定在所述测量架上的测量装置、位于底座上的均匀开有数个缺口的转盘、控制转盘转动的传动装置。本发明的优点在于:1、采用将被测零件放置于一个均匀开有数个缺口的转盘上,随着转盘的间歇转动,分别同时完成被测零件的上料、测量、下料过程的技术解决方案,避免被测零件在测量完成后,沿原路直线返回所浪费的时间,进一步提高测量效率;2、带有自动校核功能,进一步提高测量精准度;3、设计紧凑合理,操作方便,使机器的性价比更为显著。
申请公布号 CN101782362B 申请公布日期 2011.10.26
申请号 CN200910045507.8 申请日期 2009.01.19
申请人 上海泰勒精密仪器制造有限公司 发明人 李鹿鸣;陈建敏;孙宪政
分类号 G01B7/13(2006.01)I;B07C5/08(2006.01)I 主分类号 G01B7/13(2006.01)I
代理机构 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人 刘粉宝
主权项 一种间歇回转自动测量机构,其特征在于,所述间歇回转自动测量机构包括:一底座;固定在所述底座上的测量架;固定在所述测量架上的测量装置,所述测量装置包含固定所述测量架上端的测量头,固定在所述测量架上的压轮,以及固定在测量架下方的、起控制测量架和测量装置上下运动作用的导向装置;一转盘,所述转盘位于底座上,所述转盘的边缘均匀开有数个缺口;位于转盘右侧的进料槽;位于转盘左侧的出料槽;控制转盘转动的传动装置,所述传动装置包含第一驱动电机,所述第一驱动电机通过主动齿轮带动被动齿轮传递主轴转动,所述主轴与所述转盘连接。
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