用于通过受抑全内反射来探测目标颗粒的传感器装置

摘要

本发明涉及一种用于探测载体(11)的接触表面(12)处的目标颗粒(1)的光学传感器装置(100)，所述传感器装置包括：光源(21、22)，用于发射入射光束(L1)到所述载体(11)中，使得所述入射光束被在所述接触表面(12)全内反射成并由目标颗粒(1)部分散射成输出光束(L2)。所述传感器装置还包括光学系统(30)，用于将所述输出光束(L2)引导至光探测器(50)上，其中所述光学系统(30)中的滤光器(32)抑制全内反射光分量(L2d)。所述探测器因此主要测量散射光部分(L2s)。

主权项

一种用于探测载体(11)的接触表面(12)处的目标颗粒(1)的光学传感器装置(100)，包括：a)光源(21、22)，用于发射入射光束(L1)到所述载体(11)中，使得所述入射光束被在所述接触表面(12)处全内反射成并由所述接触表面(12)处的目标颗粒(1)部分散射成输出光束(L2)；b)光学系统(30)，用于将所述输出光束(L2)引导至光探测器(50)上，所述光学系统(30)包括用于抑制全内反射光分量(L2d)的滤光器(32)。