发明名称 Reference Material for Nondestructive Photo-Infrared Thermography and Inspection Method of using the same
摘要 <p>이를 위해, 본 발명은 소정 면적을 갖는 금속판의 일면에 다수의 결함부를 등간격 또는 불균일 간격으로 형성하되, 상기 결함부들은 비파과검사 장치에 의하여 검출 가능한 최소직경, 최대직경, 최소직경과 최대직경 사이의 직경으로 형성되는 동시에 비파과검사 장치에 의하여 검출 가능한 최소깊이, 최대깊이, 최소깊이와 최대깊이 사이의 깊이로 형성된 것을 특징으로 하는 광-적외선 열화상 비파괴 검사용 참조물질 및 이를 이용한 비파괴검사 방법을 제공한다.</p>
申请公布号 KR101077043(B1) 申请公布日期 2011.10.26
申请号 KR20090009465 申请日期 2009.02.05
申请人 发明人
分类号 G01N1/28;G01N21/88;G01N25/72 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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