发明名称 Duplex scan apparatus
摘要 <p>양면 스캔 장치를 제공한다. 제공된 양면 스캔 장치는 원고가 놓여지는 원고대와, 상기 원고대의 일측에 설치되며 상기 원고 측으로 광을 조사하고 상기 조사된 광의 반사광을 감지하여 상기 원고의 일면을 스캔하는 제1스캔모듈과, 상기 원고대의 타측에 설치되며 상기 원고 측으로 광을 조사하고 상기 조사된 광의 반사광을 감지하여 상기 원고의 타면을 스캔하는 제2스캔모듈 및, 상기 제1스캔모듈과 상기 제2스캔모듈 중 적어도 어느 한 곳에 설치되며 상기 스캔모듈들 사이의 광 간섭을 차단하는 광 차단부재를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101076038(B1) 申请公布日期 2011.10.21
申请号 KR20050108207 申请日期 2005.11.11
申请人 发明人
分类号 G06K9/20 主分类号 G06K9/20
代理机构 代理人
主权项
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