SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF

摘要

반도체 메모리 장치는, 메인 메모리 유닛으로서 기능하는 비휘발성 메모리, 이 비휘발성 메모리의 버퍼 유닛으로서 기능하는 휘발성 메모리, 제어기, ECC 버퍼, 패리티 신드롬 회로, ECC 제어 회로, 멀티플렉서 및 ECC 에러 위치 디코더를 포함한다.