| 发明名称 |
SEPARATE TEST ELECTRONICS AND BLOWER MODULES IN AN APPARATUS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
The invention relates to an apparatus for testing an integrated circuit of an electronic device. |
| 申请公布号 |
US2011256774(A1) |
申请公布日期 |
2011.10.20 |
| 申请号 |
US201113168910 |
申请日期 |
2011.06.24 |
| 申请人 |
AEHR TEST SYSTEMS |
发明人 |
HENDRICKSON DAVID S.;JOVANOVIC JOVAN;RICHMOND, II DONALD P.;BARRACLOUGH WILLIAM D. |
| 分类号 |
H01R24/00 |
主分类号 |
H01R24/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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