发明名称 |
监控电位测量探针的方法 |
摘要 |
一种监控测量探针的方法,所述测量探针与测量介质接触并记录所述测量介质的至少一个测量值(X),其中,所述方法包括:确定并估计第一和第二参数(P1、P2)的时间相关的值,其中,所述第一参数(P1)比所述第二参数(P2)更快地响应于所述测量介质所经受的处理的改变,并且其中,两个参数(P1、P2)均是探针特异性参数。 |
申请公布号 |
CN102224471A |
申请公布日期 |
2011.10.19 |
申请号 |
CN200980146783.1 |
申请日期 |
2009.11.23 |
申请人 |
梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
发明人 |
P·埃里斯曼 |
分类号 |
G05B23/02(2006.01)I;G01N27/416(2006.01)I |
主分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈松涛;蹇炜 |
主权项 |
一种监控测量探针的方法,所述测量探针特别是离子敏感的电流、电位或光学测量探针,所述测量探针与测量介质接触并用于获取所述测量介质的至少一个测量值(X),所述方法包括以下步骤:‑测量第一参数(P1)的时间相关的值;‑确定所述第一参数(P1)的值的时间导数并确立第一绝对值(|dp1/dt|);‑将所述第一绝对值(|dp1/dt|)与第一阈值(G1)进行比较;‑记录所述第一绝对值(|dp1/dt|)超过所述第一阈值时的第一时间点(t1);‑在此第一时间点(t1)开始,监控所述第一参数(P1)的值,直至所述第一绝对值(|dp1/dt|)下降到所述第一阈值(G1)以下时的第二时间点(t2);‑从所述第二时间点(t2)开始,测量第二参数(P2)的时间相关的值;‑确定所述第二参数(P2)的值的时间导数并确立第二绝对值(|dp2/dt|);‑将所述第二绝对值(|dp2/dt|)与第二阈值(G2)进行比较,直至所述第二绝对值(|dp2/dt|)下降到所述第二阈值(G2)以下时的第三时间点(t3);‑确定所述测量探针的与所述第一、第二和/或第三时间点(t1、t2、t3)相关联的监控量;其中,所述第一参数(P1)比所述第二参数(P2)更快地响应于所述测量介质所经受的处理的改变,并且其中,两个参数(P1、P2)均是探针特异性参数。 |
地址 |
瑞士格赖芬塞 |