发明名称 |
一种米类加工精度测定方法 |
摘要 |
本发明公开了一种米类加工精度测定方法,其特征在于:所述测定方法是利用计算机图像处理技术获得米类图像糠皮区域和籽粒区域信息,分别进行糠皮区域和籽粒区域的图像识别分割与提取,根据糠皮区域占籽粒区域的百分比值实现米类加工精度的测定。所述测定方法包括进样系统、图像采集系统、图像分析处理系统,其中,进样系统连接到图像采集系统,图像采集系统连接到图像分析处理系统。本发明是利用粮食谷物籽粒的图像信息特性对米类加工精度进行检测,测定结果客观、简便、快捷,自动化。 |
申请公布号 |
CN102221552A |
申请公布日期 |
2011.10.19 |
申请号 |
CN201110132887.6 |
申请日期 |
2011.05.23 |
申请人 |
河南工业大学 |
发明人 |
张浩;王若兰;叶娟;杨红卫;周展明 |
分类号 |
G01N21/85(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/85(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种米类加工精度测定的方法,其特征在于:所述测定方法是利用计算机图像处理技术获得米类图像糠皮区域和籽粒区域信息,分别进行糠皮区域和籽粒区域的图像识别分割与提取,根据糠皮区域占籽粒区域的百分比值实现米类加工精度的测定。 |
地址 |
450001 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街 |