发明名称 |
存储器测试方法 |
摘要 |
一种存储器测试方法,包括,首先,从存储器读取一数据,并将数据存储至一第一暂存存储器。同时,将一预期数据从一测试器写入一第二暂存存储器,预期数据是相对应于数据。之后,比较第一暂存存储器内的数据与第二暂存存储器内的预期数据以判断存储器是否具有足够的一操作区间。 |
申请公布号 |
CN101383189B |
申请公布日期 |
2011.10.19 |
申请号 |
CN200810008569.7 |
申请日期 |
2008.01.23 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
张钦鸿;何文乔;张坤龙;洪俊雄 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01)I;G11C16/06(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
葛宝成;黄小临 |
主权项 |
一种存储器测试方法,包括:依据一第一临界电压从该存储器读取一数据,并将该数据存储至一第一暂存存储器,同时,将一预期数据从一测试器写入一第二暂存存储器,该预期数据是相对应于该数据;以及比较该第一暂存存储器内的该数据与该第二暂存存储器内的该预期数据以判断该存储器是否具有足够的一操作区间。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |