发明名称 Prüfstift und IC-Träger mit Prüfstift
摘要 Der Prüfstift umfasst einen aus einem Metallblech geformten Kolben und eine aus einem Metalldraht geformte und zum Halten des Kolbens ausgelegte Schraubenfedereinheit. In einem entfalteten Zustand umfasst der Kolben einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich, von denen jeder einen oberen Kontaktstreifen, einen breiten Bereich und einen unteren Kontaktstreifen aufweist, und die miteinander über die breiten Bereiche, die im ersten und zweiten Bereich ausgebildet sind, miteinander verbunden sind. Der Kolben ist in einer Verbundweise ausgebildet, indem der erste und zweite Bereich entlang einer Begrenzung der darin ausgebildeten breiten Bereiche zusammengefaltet werden, um somit zumindest die breiten Bereiche in engen Kontakt zueinander zu bringen.
申请公布号 DE102011013411(A1) 申请公布日期 2011.10.13
申请号 DE201110013411 申请日期 2011.03.09
申请人 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KATO, YUJI;SUZUKI, TAKEYUKI
分类号 G01R31/28;H01R11/18 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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