发明名称 光刻投射装置及用于所述装置中的反射器组件
摘要 本发明披露一种光刻投射装置,包括可产生辐射投射光束的辐射系统,投射光束来自辐射源射出的辐射;用于支撑构图部件的支撑结构,当由投射光束辐射时提供带图案的投射光束;用于固定基底的基底台;以及投射系统,设置和安排为将构图部件的照射部分成像在基底的靶部上。辐射系统进一步包括离开光轴一段距离的孔径,从光源方向看位于孔径之后的反射器,以及位于孔径之后的低辐射强度区域内的结构。
申请公布号 CN1495528B 申请公布日期 2011.10.12
申请号 CN03132763.X 申请日期 2003.08.13
申请人 ASML荷兰有限公司 发明人 L·P·巴克科;J·乔克斯;F·J·P·舒厄曼斯;H·M·维斯塞
分类号 G03F7/20(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I;H01L21/68(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 用于反射光线电磁辐射的反射器装置(10),该反射器装置(10)包括至少一个第一反射器(21)和一个第二反射器(22),所述第一反射器(21)和第二反射器(22)绕光轴(O)对称设置,所述第一反射器(21)和第二反射器(22)中的每一个具有反射面(26,27)和背面(24,25),在该反射器装置(10)中,与所述第一反射器(21)和第二反射器(22)相交并垂直于光轴(O)的虚线(L),与所述第一反射器(21)在距离光轴(O)的第一距离(r1)处相交,与所述第二反射器(22)在距离光轴(O)的第二距离(r2)处相交,第一距离(r1)大于第二距离(r2),由光轴(O)上一点发射的一些光线被所述第二反射器(22)切断,并且由光轴(O)上的该点发射的其它光线在第一反射器(21)的反射面上反射,该光线确定所述第一反射器(21)和第二反射器(22)之间的高辐射强度区域(zh)和低辐射强度区域(z1),其特征在于在低强度区域(z1)位置处第二反射器(22)的背面(25)上存在着用于在所述第一反射器(21)和第二反射器(22)之间的空间供应流体的喷嘴。
地址 荷兰维尔德霍芬