LED光学参数综合测试装置

摘要

本发明公开了一种LED光学参数综合测试装置，属于光学参数测量技术领域。其技术特点是，装有一维移动平台的水平基座一端固定带光纤探头和标准光度探头的弧形夹具，另一端固定由弧线光纤阵和线阵CCD构成的弧形集光器，放置被测LED的旋转装夹台安装在一维移动平台上；光纤探头采集的光信息通过光谱仪转换成光谱带后送入计算机，标准光度探头和线阵CCD的输出通过数据采集单元送入计算机，计算机通过测量软件对测量数据进行相应的处理和运算，最终获得被测LED的发光特性。本发明解决了在一台测量仪器上实现对LED的综合测量问题，具有操作简单、结构紧凑，测量快速、易于实现等特点。

主权项

一种LED光学参数综合测试装置，包括光源夹持调节机构、采集与控制组件和计算机(17)，其特征在于：还包括弧形接收组件，所述光源夹持调节机构包括水平基座(1)、一维移动平台(2)和含有夹持调节机构(5‑2)及电控旋转台(5‑1)的旋转装夹台(5)，一维移动平台(2)安装在水平基座(1)上，旋转装夹台(5)安装在一维移动平台(2)上，被测LED(6)通过夹持调节机构(5‑2)固定于电控旋转台(5‑1)的中心；所述弧形接收组件包括弧形夹具(7)、弧形集光器、线阵CCD(12)，弧形夹具(7)为四分之一圆周金属板，其一端通过第一定位调节器(3)安装在所述水平基座(1)上，另一端装有光纤探头(10)和标准光度探头(11)，光纤探头(10)和标准光度探头(11)的中轴线均指向弧形夹具(7)的圆心(O′)，弧形集光器由弧形阵列基板(8)和多根光纤(9)组成，弧形阵列基板(8)为四分之一圆周硅板且硅板板宽中心线上均布有多个微型通孔(8‑1)，弧形阵列基板(8)的一端通过第二定位调节器(4)安装在所述水平基座(1)上，每根光纤(9)的球面端对应固连在一个微型通孔(8‑1)中，且球面圆心与微型通孔(8‑1)内侧端面的圆心重合，光纤(9)的另一端面均匀排列在线阵CCD(12)的光敏面上并用胶固定；当测量LED的光谱和发光强度时，被测LED(6)位于弧形夹具(7)的圆心(O′)处，光纤探头(10)将被测LED(6)的发光信号送入采集与控制组件，标准光度探头(11)将被测LED(6)的轴向发光信号送入采集与控制组件；当测量LED的光强分布时，被测LED(6)位于弧形集光器的圆心(O)处；光纤(9)的球面端将被测LED(6)发光空间90°范围内的发光信号会聚到线阵CCD(12)的光敏面上而形成光带，线阵CCD(12)对光带信息进行转换后送入采集与控制组件；所述采集与控制组件包括光谱仪(13)、数据采集单元(15)和控制单元(16)，光谱仪(13)接收所述光纤探头(10)输出的光信号并将其转换成光谱信息送入所述计算机(17)，数据采集单元(15)采集所述标准光度探头(11)和所述线阵CCD(12)的输出信号并将采集信号送入所述计算机(17)；控制单元(16)在所述计算机(17)给出的指令控制下，完成对电控旋转台(5‑1)和一维移动平台(2)的驱动；所述计算机(17)装有各自独立运行的发光强度测量模块、光谱及色度测量模块、光强空间相对分布测量模块：发光强度测量模块根据输入的测量条件向所述控制单元发送控制指令，以使被测LED(6)移动到所述弧形夹具(7)的圆心(O′)处，根据所述标准光度探头(11)给出的探测信息和预制在计算机(17)中的照度响应度数据，计算出被测LED(6)的法向发光强度并进行相应的输出；光谱及色度测量模块根据输入的测量条件向所述控制单元发送控制指令，以使被测LED(6)移动到所述弧形夹具(7)的圆心(O′)处，根据所述光谱仪(13)测得的光谱数据计算被测LED(6)光谱峰值波长、光谱带宽、色坐标和色温并进行相应的输出；光强空间相对分布测量模块根据输入的测量条件向所述控制单元发送控制指令，使被测LED(6)移动到所述弧形集光器的圆心(O)处并按照设置的角度间隔、转动速度逐点接收所述线阵CCD(12)的输出信息，逐条绘制出灰度曲线，直到所述电控旋转台(5‑1)旋转一周结束曲线绘制，并输出被测LED(6)极坐标下的光强三维空间分布。