发明名称 一种发光二极管主波长的测量方法
摘要 本发明公开一种发光二极管主波长的测量方法,该方法用于光电技术领域中根据发光二极管的主波长来实现发光二极管色度参数的在线测量及分选,通过光谱仪的感光器件获得被测发光二极管的一系列离散的相对光谱能量分布曲线数据P(λ<sub>i</sub>)并根据CIE-1931 2°<img file="dsb00000439332400011.GIF" wi="401" he="61" />配色函数,计算出其色度坐标后,由分区间判断算法和变步长查询算法计算出其准确的主波长值。本发明减少了主波长计算中的运算量,提高了工作效率,用于发光二极管色度参数的在线测量和分选。
申请公布号 CN101566505B 申请公布日期 2011.10.12
申请号 CN200910038136.0 申请日期 2009.03.24
申请人 中科院广州电子技术有限公司 发明人 肖国龙;李耀棠;龚正平
分类号 G01J9/00(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I 主分类号 G01J9/00(2006.01)I
代理机构 广州中瀚专利商标事务所 44239 代理人 黄洋;盖军
主权项 1.一种发光二极管主波长的测量方法,该方法用于光电技术领域中根据发光二极管的主波长来实现发光二极管色度参数的在线测量及分选,通过光谱仪的感光器件获得被测发光二极管的一系列离散的相对光谱能量分布曲线数据P(λ<sub>i</sub>)并根据CIE-1931 2°<img file="FSB00000439332500011.GIF" wi="404" he="94" />配色函数,计算出其色度坐标后,由分区间判断算法和变步长查询算法计算出其准确的主波长值,其特征在于:分区间判断算法是以等能白光W<sub>E</sub>作为参照光源,将CIE 1931色度图上的光谱轨迹按纯光谱色波长分为若干个区间,确保在每一个区间内的光谱轨迹与等能白光WE点连线的斜率变化是单调递减,快速判断出被测发光二极管主波长所在的区间;变步长查询算法是在分区间判断算法确定主波长所在的区间后,先用一较大的步长去查找到主波长估算值,然后再以较小的步长对相邻的数值逐个比对,找到最接近的点,确定准确的主波长值。
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