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发明名称
Method of manufacturing a semiconductor device
摘要
<p>본 발명은 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것으로, 본 발명은 고주파 소자가 형성될 반도체 기판 하부에 실리콘 산화막을 형성하고, 그 경계면의 반도체 기판에 소자 분리막을 형성하여 고주파 소자영역을 전기적/물리적으로 완전히 차단할 수 있으며, 실리콘 산화막과, 소자 분리막을 이용하여 차단된 고주파 소자 영역으로 인해 노이즈 발생과 소자간의 크로스 토크 발생을 방지할 수 있는 반도체 장치의 제조 방법을 제공한다.</p>
申请公布号
KR101073008(B1)
申请公布日期
2011.10.12
申请号
KR20040001661
申请日期
2004.01.09
申请人
发明人
分类号
H01L21/265
主分类号
H01L21/265
代理机构
代理人
主权项
地址
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