发明名称 深槽高压终端结构的制作方法以及高压半导体器件
摘要 本发明提供一种深槽高压终端结构的制作方法,包括步骤:提供半导体衬底,其上依次形成有高压半导体器件、覆盖高压半导体器件的氧化层以及图形化的互连线;依次刻蚀氧化层和半导体衬底,在高压半导体器件两侧分别形成深槽,深槽刻蚀掉一部分阱区并延伸至半导体衬底中;在氧化层表面涂覆阻挡材料,深槽也会被同步填满;在高压半导体器件的引线孔的位置刻蚀阻挡材料,露出底部的互连线。本发明还提供一种高压半导体器件。本发明当器件受到高压偏置时,其阱区的耗尽层在横向方向被填满阻挡材料的深槽阻挡,故只能纵向延伸。由此,器件下方的电势等位线基本上没有弯曲,电力线比较均匀,击穿电压接近于平面结,避免了电力线密集处电压易击穿的问题。
申请公布号 CN102214583A 申请公布日期 2011.10.12
申请号 CN201110138657.0 申请日期 2011.05.26
申请人 上海先进半导体制造股份有限公司 发明人 陈雪萌
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陈亮
主权项 一种深槽高压终端结构的制作方法,包括步骤:提供半导体衬底,其上依次形成有高压半导体器件、覆盖所述高压半导体器件的氧化层以及图形化的互连线;依次刻蚀所述氧化层和半导体衬底,在所述高压半导体器件两侧分别形成深槽,所述深槽刻蚀掉一部分阱区并延伸至所述半导体衬底中;在所述氧化层表面涂覆阻挡材料,所述深槽也会被同步填满;在所述高压半导体器件的引线孔的位置刻蚀所述阻挡材料,露出底部的互连线。
地址 200233 上海市徐汇区虹漕路385号