| 发明名称 | LED晶粒生产设备的校正方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种LED晶粒生产设备的校正方法。该校正方法包括以下步骤：制作多个校正晶粒；采用标准机台测试出各校正晶粒的特性数据x；采用生产机台测试出各校正晶粒的特性数据y；根据各校正晶粒所得的特性数据拟合特性曲线，并根据特性曲线调整生产机台的操作参数，使得各校正晶粒的特性曲线满足线性方程y＝mx+b，其中，m为0.8～1；特性数据包括主波长数据和光强数据。应用本发明的技术方案，极大的减少了工作量，提高了工作效率，且产品数据的一致性好。 | ||
| 申请公布号 | CN102214741A | 申请公布日期 | 2011.10.12 |
| 申请号 | CN201110146864.0 | 申请日期 | 2011.06.01 |
| 申请人 | 湘能华磊光电股份有限公司 | 发明人 | 姜敏;李蛟;徐亚兵 |
| 分类号 | H01L33/00(2010.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L33/00(2010.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 吴贵明 |
| 主权项 | 一种LED晶粒生产设备的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：制作多个校正晶粒；采用标准机台测试出各所述校正晶粒的特性数据x；采用生产机台测试出各所述校正晶粒的特性数据y；根据各校正晶粒所得的特性数据拟合特性曲线，并根据所述特性曲线调整所述生产机台的操作参数，使得各校正晶粒的所述特性曲线满足线性方程y＝mx+b，其中，m为0.8～1；所述特性数据包括主波长数据和光强数据。 | ||
| 地址 | 423038 湖南省郴州市白露塘有色金属产业园 | ||