发明名称 | 用于将编码数据写入存储介质的装置及方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于将编码数据写入存储介质的装置及方法。其中,用于将编码数据写入存储介质的装置包含:质量检测信号产生器,用以产生质量检测信号;缺陷判断单元,耦接于质量检测信号产生器,缺陷判断单元用以依据质量检测信号产生缺陷判断结果;以及校验单元,耦接于缺陷判断单元,用以参考缺陷判断结果来选择性地校验已写入存储介质中的编码数据。利用本发明,无须对所有已写入存储介质中的编码数据进行校验,从而节省了时间,提高了对数据进行编码及对编码数据进行写入处理的效率。 | ||
申请公布号 | CN101609705B | 申请公布日期 | 2011.10.12 |
申请号 | CN200910140737.2 | 申请日期 | 2009.05.13 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 徐汉光;陈世新;杨金彬;陈炳盛 |
分类号 | G11B20/18(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人 | 葛强;张一军 |
主权项 | 一种用于将编码数据写入存储介质的装置,其特征在于,该用于将编码数据写入存储介质的装置包含:质量检测信号产生器,用以产生质量检测信号;缺陷判断单元,耦接于该质量检测信号产生器,该缺陷判断单元用以依据该质量检测信号产生缺陷判断结果;以及校验单元,耦接于该缺陷判断单元,用以参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入该存储介质中的编码数据。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号 |