发明名称 Kontaktelemente eines Halbleiterbauelements, die durch stromloses Plattieren und Entfernung von überschüssigem Material mit geringeren Scherkräften hergestellt sind
摘要 <p>Kontaktelemente in der Kontaktebene eines Halbleiterbauelements werden auf der Grundlage einer selektiven Abscheidetechnik, etwa durch stromloses Plattieren, hergestellt, wobei eine effiziente Einebnung der Kontaktebene erreicht wird, ohne dass die Kontaktelemente einer unerwünschten mechanischen Belastung ausgesetzt werden. In einigen anschaulichen Ausführungsformen wird eine Überfüllung der Kontaktöffnungen zuverlässig vermieden und das Einebnen der Oberflächentopographie wird auf der Grundlage eines nicht-kritischen Polierprozesses erreicht. In anderen Fällen werden elektrochemische Ätztechniken in Verbindung mit einer leitenden Stromverteilungsschicht angewendet, um überschüssiges Material der Kontaktelemente zu entfernen, ohne eine unerwünschte mechanische Belastung hervorzurufen.</p>
申请公布号 DE102010003556(A1) 申请公布日期 2011.10.06
申请号 DE20101003556 申请日期 2010.03.31
申请人 GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LLC & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. 发明人 PREUSSE, AXEL;SCHROEDER, NORBERT;STOECKGEN, UWE
分类号 H01L21/445 主分类号 H01L21/445
代理机构 代理人
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