Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflächengüte fester Körper.,申请号CHD292444-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflächengüte fester Körper.
摘要
申请公布号	CH292444(A)	申请公布日期	1953.08.15
申请号	CHD292444	申请日期	1951.07.21
申请人	ZEISS-OPTON OPTISCHE WERKE OBERKOCHEN GMBH.	发明人	GMBH. ZEISS-OPTON OPTISCHE WERKE OBERKOCHEN
分类号	G02B21/14	主分类号	G02B21/14
代理机构		代理人
主权项
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