发明名称 高电流半导体功率器件小外形集成电路封装
摘要 本发明公开了一种高电流半导体功率小外形集成电路封装。该封装包括由具有大于8mil厚度的单规格材料形成的相对厚的引线框,所述引线框具有多个引线和第一引线框区,该第一引线框区包括焊接到其上的芯片;一对设置在与芯片顶表面同一平面上的引线键合区域;将芯片连接到多个引线上的铝制大直径键合导线;和密封芯片,键合导线和引线框的至少一部分的树脂体。
申请公布号 CN101174602B 申请公布日期 2011.10.05
申请号 CN200710147438.2 申请日期 2007.09.12
申请人 万国半导体股份有限公司 发明人 孙明;张晓天;施磊
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L23/495(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种高电流半导体功率小外形集成电路封装,其特征在于,该封装包括:由具有大于8密尔mil厚度的单规格材料形成的相对厚的引线框,该引线框具有多个引线和第一引线框区,该第一引线框区包括焊接到其上的芯片;一对设置在与芯片顶表面同一平面上的引线键合区域;将芯片连接到多个引线上的铝制直径直至20mil的键合导线;和密封芯片、键合导线和引线框的至少一部分的树脂体;所述封装具有可安装到TO 252封装焊接区图形上的引线脚,所述的高电流半导体功率小外形集成电路封装还包括能够匹配TO 252封装焊接 区图形的向外延伸的漏极、源极和栅极引线,所述的引线脚与高电流半导体功率小外形集成电路封装的引脚匹配;所述的键合区域包括源极键合区域,所述的源极键合区域延伸经熔融的源极引线的全长。
地址 百慕大哈密尔敦维多利亚街22号佳能院