发明名称 PROBE FOR DETECTING ABL GENE MUTATION AND USES THEREOF
摘要 <p>일염기만이 상이하며 변이를 포함하는 검출 대상 서열과 변이를 포함하지 않는 비검출 대상 서열이 공존하는 경우라도, 상기 변이를 포함하는 검출 대상 서열을 검출할 수 있는 검출용 프로브를 제공한다. 서열 번호 2∼16로 이루어진 군에서 선택된 적어도 하나의 올리고 뉴클레오티드를 프로브로서 사용한다. 이들 프로브를 예를 들어 Tm 해석에 사용함으로써, 변이가 발생한 abl 유전자와 변이가 발생하지 않은 abl 유전자가 포함되는 시료라 하더라도, 전자의 변이를 검출할 수 있다.</p>
申请公布号 KR101070349(B1) 申请公布日期 2011.10.05
申请号 KR20087021617 申请日期 2008.02.19
申请人 发明人
分类号 C12N15/09;C12Q1/68;G01N21/78 主分类号 C12N15/09
代理机构 代理人
主权项
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