| 发明名称 | 陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器 | ||
| 摘要 | 本发明涉及陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器。具体地说，本发明涉及通过测量Eu-、Tb-和/或Yb-含量来测量和/或判断陶瓷材料，尤其是Gd2O2S材料和/或前体材料中的余辉的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101523196B | 申请公布日期 | 2011.10.05 |
| 申请号 | CN200780030252.7 | 申请日期 | 2007.08.09 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | C·R·龙达;G·蔡特勒;H·施赖讷马赫尔 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 于辉 |
| 主权项 | Gd2O2S:M荧光陶瓷材料和/或所述陶瓷材料的前体材料中的余辉的测量和/或判断方法，其中M代表至少一种选自Pr、Dy、Sm、Ce、Nd和/或Ho的元素，其中，在延时光谱的帮助下，通过测量在所述荧光陶瓷材料和/或前体材料中的Eu‑、Tb‑和/或Yb‑浓度来测量和/或判断余辉，所述延时光谱包括在波长区域≥100nm至≤300nm的至少一个波长下陶瓷材料和/或前体材料的激发，所述前体材料是指制备Gd2O2S材料的材料，所述延时光谱包括在时间T0时陶瓷材料和/或前体材料的激发的结束和在时间T1后测量的延迟的开始。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||