发明名称 |
半导体封装及其制造方法 |
摘要 |
本发明涉及一种半导体封装及其制造方法。本发明的半导体封装包含:衬底,其具有穿透其的透孔;半导体芯片,其定位于所述衬底上,覆盖所述透孔;以及热传导装置,其填充所述透孔且接触所述半导体芯片。根据本发明,显著减少了所述半导体封装的结构中的热阻,且因此实现热量扩散或耗散的合意性能。另外,还减小了所述半导体封装的生产成本和大小。 |
申请公布号 |
CN102208374A |
申请公布日期 |
2011.10.05 |
申请号 |
CN201010265441.6 |
申请日期 |
2010.08.26 |
申请人 |
香港应用科技研究院有限公司 |
发明人 |
林志荣;卢明 |
分类号 |
H01L23/367(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L33/64(2010.01)I |
主分类号 |
H01L23/367(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
孟锐 |
主权项 |
一种半导体封装,其包含:衬底,其具有穿透其的透孔;半导体芯片,其定位于所述衬底上,覆盖所述透孔;以及热传导装置,其填充所述透孔且接触所述半导体芯片。 |
地址 |
中国香港新界沙田香港科学园科技大道西二号生物资讯中心3楼 |