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发明名称 Self-repairing built-in self test for linked list memories
摘要
申请公布号 EP1416499(B1) 申请公布日期 2011.10.05
申请号 EP20030023972 申请日期 2003.10.22
申请人 BROADCOM CORPORATION 发明人 KIM, HYUNGWON;SHUNG, CHUEN-SHEN
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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