发明名称 | 电子部件封装体的制造方法 | ||
摘要 | 一种电子部件封装体,在形成于电子部件封装体主体上的金属化区域上配置盖固定环。进而,对盖固定环的一部分进行点加热,使焊料发生局部熔融,以将该盖固定环暂时固定在金属化区域上。其后,对电子部件封装体主体加热使整个焊料熔融,以将盖固定环固定在金属化区域上。由此,能够高精度地制造出电子部件封装体,以适应电子部件的小型化。 | ||
申请公布号 | CN101730935B | 申请公布日期 | 2011.10.05 |
申请号 | CN200880022974.2 | 申请日期 | 2008.07.03 |
申请人 | 亚金股份有限公司 | 发明人 | 百濑一久 |
分类号 | H01L23/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/02(2006.01)I |
代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 郭晓东;马少东 |
主权项 | 一种电子部件封装体的制造方法,其特征在于,包括:检测步骤,对形成于电子部件封装体主体上的金属化区域照射光,并对该光的反射光进行拍摄,以检测出所述金属化区域的位置以及角度;环配置步骤,向形成于电子部件封装体主体上的金属化区域配置盖固定环;环暂时固定步骤,对所述盖固定环的一部分进行点加热,利用焊料将所述盖固定环暂时固定在所述金属化区域上;环固定步骤,对暂时固定有所述盖固定环的所述电子部件封装体主体进行加热,使所述焊料整体熔融,以使所述盖固定环固定在所述金属化区域上。 | ||
地址 | 日本埼玉县 |