发明名称 Phase-Change Random Access Memory Device and Fabrication Method Thereof
摘要 <p>개시되는 상변화 메모리 소자는 지정된 크기의 홀이 형성된 층간 절연막, 층간 절연막 상에 형성되는 점착 박막, 홀 내에 형성되는 하부전극 콘택 및, 하부전극 콘택 및 점착 박막과 접촉되는 상변화 물질층을 포함한다.</p>
申请公布号 KR101069704(B1) 申请公布日期 2011.10.04
申请号 KR20090101052 申请日期 2009.10.23
申请人 发明人
分类号 H01L21/8247;H01L27/115 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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