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发明名称
Phase-Change Random Access Memory Device and Fabrication Method Thereof
摘要
<p>개시되는 상변화 메모리 소자는 지정된 크기의 홀이 형성된 층간 절연막, 층간 절연막 상에 형성되는 점착 박막, 홀 내에 형성되는 하부전극 콘택 및, 하부전극 콘택 및 점착 박막과 접촉되는 상변화 물질층을 포함한다.</p>
申请公布号
KR101069704(B1)
申请公布日期
2011.10.04
申请号
KR20090101052
申请日期
2009.10.23
申请人
发明人
分类号
H01L21/8247;H01L27/115
主分类号
H01L21/8247
代理机构
代理人
主权项
地址
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