发明名称 双植氧分离混合晶向技术之(热)基板
摘要
申请公布号 TWI349972 申请公布日期 2011.10.01
申请号 TW094121129 申请日期 2005.06.24
申请人 萬國商業機器公司 美國 发明人 凯文K 陈 美国;乔P 迪 索萨;亚历山大 瑞兹尼塞克 美国;蒂凡卓K 沙达那 美国;凯瑟琳L 珊格 美国
分类号 H01L21/38 主分类号 H01L21/38
代理机构 代理人 蔡玉玲 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项 一种形成一积体半导体结构的方法,包含下列步骤:提供一基板,包含具有一第一结晶方向之一基部半导体基板层,藉由一第一绝缘层分隔该基部半导体基板层与具有一第二结晶方向之一顶部半导体层,该第一结晶方向异于该第二结晶方向;形成至少一开口于该基板中,暴露该基部半导体基板层之一表面;填入一磊晶成长半导体材料于该至少一开口中,且于该基部半导体基板层之该暴露表面上,该磊晶成长半导体材料具有一结晶方向相同于该第一结晶方向;以及植入与回火以(i)形成一第二绝缘层于该磊晶成长半导体材料中,及(ii)增厚该顶部半导体层下方的该第一绝缘层。
地址 美国