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经营范围
发明名称
分层摄影检测之系统与方法
摘要
申请公布号
TWI349774
申请公布日期
2011.10.01
申请号
TW096127817
申请日期
2007.07.30
申请人
德律科技股份有限公司 臺北市士林區德行西路45號7樓
发明人
温光溥 新竹市东区民享街176巷35号;陈世亮 台北市大安区建国南路1段42号15楼;李孟坤 新北市三重区忠孝路3段7巷8号
分类号
G01N23/223
主分类号
G01N23/223
代理机构
代理人
李贵敏 台北市松山区敦化北路168号15楼
主权项
一种分层摄影检测系统,包含:一辐射源;复数个线型影像感测器,其可定义一影像平面;一固定桌面,其可将一待测物体承载于一固定位置,该固定桌面系位于该辐射源与该影像感测器之间;以及一计算装置,其可计算复数个位移参数与复数个缩放参数,藉以组合该影像感测器所取得之复数个影像,以重建该待测物体中一特定区段的一截面影像,其中该计算装置系被装配而:利用立体影像法处理该影像,以判断该待测物体之一弯曲补偿,及使用该弯曲补偿以计算该位移参数与该缩放参数;其中,该辐射源与该影像感测器之设置,可利用一连串平行线型扫瞄,以不同之视角对该待测物体进行检测,取得该复数个影像。
地址
台北市士林区德行西路45号7楼
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