发明名称 一种防渗引线框架
摘要 本实用新型公开了一种防渗引线框架,包括芯片部、中间管脚、二个侧管脚、中筋、定位孔和矩形凹槽,其特征在于:所述防渗引线框架还具有防渗凹槽;所述防渗凹槽位于定位孔和矩形凹槽之间。应用所述防渗引线框架,可以有效地将封装测试漏电流不良比例从0.4~0.6%降低至0.1~0.2%,进而提高电子元器件封装良率和使用寿命。
申请公布号 CN201994288U 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN201120022076.6 申请日期 2011.01.24
申请人 深圳市三浦半导体有限公司 发明人 王勇
分类号 H01L23/495(2006.01)I 主分类号 H01L23/495(2006.01)I
代理机构 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人 齐永红
主权项 一种防渗引线框架,包括芯片部、中间管脚、二个侧管脚、中筋、定位孔和矩形凹槽,其特征在于:所述防渗引线框架还具有防渗凹槽;所述防渗凹槽位于定位孔和矩形凹槽之间。
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