发明名称 一种光模块的消光比调试装置及调试方法
摘要 本发明公开光模块的一种通过算法实现消光比指标的高精度调试方法,设置所述光模块有APC环路工作,设置所述光模块的LD驱动电路和LD之间的调制信号耦合模式为交流耦合模式;所述调试方法无需事先测试出所述光模块的激光器的发光效率和阈值电流,对来料数据无依赖;所述调试方法可以将所述光模块调试消光比到目标值,误差控制在+/-1dB以内;所述调试方法可以用于OLT光模块的大消光比调试并在商业档全温范围内保证精度;所述调试方法可以通过全自动化控制实现。
申请公布号 CN102200671A 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN201110103764.X 申请日期 2011.04.25
申请人 索尔思光电(成都)有限公司 发明人 裴培;蒋旭;杨毅
分类号 G02F2/00(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I 主分类号 G02F2/00(2006.01)I
代理机构 四川力久律师事务所 51221 代理人 林辉轮;王芸
主权项 1.一种光模块消光比的调试方法,所述光模块包括偏置电路和调制电路,其特征在于,所述调试方法包括以下步骤:步骤1:将待调试光模块插在一评估板上;步骤2:将一光功率计连接至一计算机和所述待调试光模块,其中所述光功率计包括光口和GBIP接口,将所述光口连接至所述待调试光模块用以测量光功率,将所述GBIP接口连接至所述计算机用以将所测得的光功率值传送至所述计算机;步骤3:将所述评估板置于一恒温箱中;步骤4:将恒温箱设置为常温;步骤5:用一激光驱动器驱动所述激光器,所述激光驱动器的参考电压为V<sub>REF</sub>;步骤6:设定所述第一微处理器模数转换端口的数值为DAC_0,从光功率计中读出相应光功率P<sub>0</sub>,从第一微处理器上采集其数模转换端口的值ADC_0,根据等式<img file="FDA0000057267570000011.GIF" wi="437" he="107" />计算此时的偏置电流I<sub>BIAS_</sub>(0),并将计算结果存入一寄存器;步骤7:调整所述第一微处理器模数转换端口的数值,将光功率调试到目标光功率值,得到所述第一微处理器模数转换端口的值为DAC_1,从光功率计中读出相应光功率为P<sub>1</sub>,从第一微处理器器上采集其数模转换端口的值ADC_1,根据等式<img file="FDA0000057267570000012.GIF" wi="437" he="107" />计算此时的偏置电流I<sub>BIAS_</sub>(1),并将计算结果存入所述寄存器;步骤8:将步骤5和步骤6所读取的光功率P<sub>0</sub>、P<sub>1</sub>以及计算的偏置电流I<sub>BIAS_</sub>(0)和I<sub>BIAS_</sub>(1)代入等式<img file="FDA0000057267570000013.GIF" wi="503" he="120" />计算所述光模块的发光效率SE,并将计算结果存入所述寄存器;步骤9:根据等式<img file="FDA0000057267570000014.GIF" wi="298" he="107" />计算平均光功率,并将计算结果和步骤7所计算的所述光模块的发光效率SE代入等式<img file="FDA0000057267570000015.GIF" wi="595" he="249" />计算调试电流I<sub>MOD</sub>,并将计算结果存入所述寄存器;步骤10:用误码分析仪分别给出长“0”和长“1”信号送入光模块,直到光模块在长“1”时的光功率除以长“0”时的光功率比值为目标消光比值,得到所述光模块在目标消光比时的目标调试电流I<sub>MODT</sub>;步骤11:将步骤9调试的目标调试电流I<sub>MODT</sub>和步骤8计算的调试电流I<sub>MOD</sub>代入等式<img file="FDA0000057267570000021.GIF" wi="232" he="120" />计算补偿系数;步骤12:将步骤8计算的调试电流I<sub>MOD</sub>和步骤10计算的补偿系数C代入等式<img file="FDA0000057267570000022.GIF" wi="1195" he="169" />计算在目标消光比时所述第二微处理器模数转换端口的数值DAC<sub>_MOD</sub>,并将计算结果存入寄存器;步骤13:记录当前第一微处理器的温度,存入寄存器。
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