发明名称 非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法
摘要 非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法,其特征在于在具有六工位磁控溅射靶位的超高真空磁控溅射生长室,本底真空度优于3.0×10-4Pa,温度为25℃±10℃,用纯度为7N的高纯圆块状CdTe单晶靶为靶材,用纯度为5N的高纯Ar气为溅射工作气体,用载玻片为衬底材料,采用单靶常规溅射技术、三靶间歇式溅射技术或者二靶连续间歇式溅射技术,分别实现非晶态CdTe薄膜的制备。本发明具有工艺可控性强,生产成本低,易于工业化规模生产的优点,能在较低的室温条件下实现非晶态CdTe薄膜的制备,制备的非晶态CdTe薄膜粘附性好,膜质均匀致密。
申请公布号 CN102199752A 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN201010129122.2 申请日期 2010.03.22
申请人 昆明物理研究所 发明人 孔令德;庄继胜;孔金丞;赵俊;李雄军;李竑志;王光华;杨丽丽;姬荣斌
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 昆明今威专利代理有限公司 53115 代理人 赛晓刚
主权项 非晶态碲化镉薄膜的磁控溅射生长法,其特征在于:在具有六工位磁控溅射靶位的超高真空磁控溅射生长室,本底真空度优于3.0×10‑4Pa,温度为25℃±10℃,用纯度为7N的高纯圆块状CdTe单晶靶为靶材,用纯度为5N的高纯Ar气为溅射工作气体,用载玻片为衬底材料,放入溅射生长室,其步骤是:(1)向磁控溅射生长室充入Ar气至真空度为1.0Pa~10Pa;(2)开启溅射源,起辉稳定后,调节溅射功率8W~15W(相当于功率密度0.28W/cm2~0.53W/cm2);(3)将作为衬底的处于非溅射靶位正上方的载玻片移至溅射靶位正上方,溅射沉积CdTe膜层,沉积时间为0.2~2小时;(4)溅射沉积结束时,先转动衬底转盘,移开衬底至非溅射靶位,再关闭溅射电源,得到非晶态CdTe薄膜。
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