发明名称 一种多次曝光组合中曝光次数确定及曝光时间分配的方法
摘要 本发明属于图像处理技术领域,涉及一种根据像素输出与光照强度和积分时间的乘积成正比的特点,通过分析图像中饱和像素与严重欠饱和像素的比例,得出目前拍摄场景中光照强度的变化范围,进而分别使用不同的积分时间获取多幅同一场景的图像,然后根据积分时间的长短进行组合。本发明能够扩展图像的动态范围,获得更佳图像效果。
申请公布号 CN101494739B 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN200910067835.8 申请日期 2009.02.09
申请人 胡燕翔 发明人 胡燕翔;李斌桥
分类号 H04N5/359(2011.01)I;H04N5/235(2006.01)I 主分类号 H04N5/359(2011.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 江镇华
主权项 1.一种多次曝光组合中曝光次数确定及曝光时间分配的方法,其特征如下:(1)设光强小于5Lux时属于低光强,大于500Lux为高光强,中等长度的曝光时间为100Lux光照下达到50%满阱容量时曝光时间,使用中等长度的曝光时间,拍摄一幅图像,曝光时间为Tc;(2)计算图像中心区域的平均亮度V、饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn;(3)当平均亮度V处于[30%饱和输出值AL,70%饱和输出值AH]之间,且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均不超过设定上限,不调整曝光时间;(4)下列三种情况下,1:当平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均不超过设定上限;2:平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns不超过设定上限,而严重欠曝光像素的数目Nn超过设定上限;3:平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns超过设定上限,而严重欠曝光像素的数目Nn不超过设定上限,按照下面的公式调整曝光时间Tt:<img file="FSB00000537962300011.GIF" wi="1174" he="169" />其中,Tmin为图像传感器能够使用的最小曝光时间,Nsd表示饱和像素数目Ns的规定上限,Ptotal表示一帧中像素的总数;K为调整系数,取0~1之间;(5)如果饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,平均亮度V在[20%饱和输出值ML,80%饱和输出值MH]之间,则再进行两次采样,一次采样低光强,一次采样高光强;(6)如果平均亮度V低于20%饱和输出值ML且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,则再进行3次采样,其中两次低光强采样,一次高光强采样;(7)如果平均亮度高于80%饱和输出值MH且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,则采样3次,其中两次高光强采样,一次低光强采样;上述的步骤(5)、(6)、(7)中,两次高光强采样的曝光时间分别按照下列两个公式确定,一次高光强采样的曝光时间按照下列两个公式的第一个公式确定,式中,Tt 1为第一高光强采样曝光时间,Tt 2为第二高光强采样曝光时间:<img file="FSB00000537962300021.GIF" wi="1083" he="156" /><img file="FSB00000537962300022.GIF" wi="1167" he="161" />两次低光强采样的曝光时间分别按照下列两个公式确定,一次低光强采样的曝光时间按照下列两个公式中的第一个公式确定,式中,Tmax为图像传感器能够使用的最大曝光时间,Tt 3为第一低光强采样曝光时间,Tt 4为第二低光强采样曝光时间:<img file="FSB00000537962300023.GIF" wi="1232" he="189" /><img file="FSB00000537962300024.GIF" wi="1072" he="205" />
地址 300192 天津市南开区迎水道科海里9-2-201