发明名称 FRET检测方法及装置
摘要 一种FRET检测方法及装置,其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时,首先,将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上,且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上,接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后,并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
申请公布号 CN101688837B 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN200780053717.0 申请日期 2007.08.30
申请人 三井造船株式会社 发明人 木村宪明;中田成幸;土井恭二
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 葛强;张一军
主权项 一种FRET检测方法,对通过激光照射而被激发的第一分子的能量朝向第二分子转移的FRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer:荧光共振能量转移)进行检测,其特征在于,该方法包括下述步骤:为了激发第一分子,将以第一频率进行强度调制的第一激光照射在第一分子上,且为了激发第二分子,将以与第一频率不同的第二频率进行强度调制的第二激光照射在第二分子上;接收第二分子发出的荧光;提取受光的第二分子所发出的荧光的荧光信号中所述第一频率的信号成分的、相对于第一激光的强度调制的第一相位滞后,以及受光的所述第二分子所发出的荧光的荧光信号中所述第二频率的信号成分的、相对于第二激光的强度调制的第二相位滞后,并通过所述第一相位滞后对所述第二相位滞后的比值,判断出是否发生有第一分子能量朝第二分子转移的能量转移。
地址 日本东京都