| 发明名称 | 基于量值的检测并对硬盘缺陷区域进行分类的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及基于量值的检测和对硬盘缺陷区域进行分类的方法。在硬盘驱动器中，通过产生两个统计量度来讲硬盘上的缺陷区域分类为对应于热粗糙(TA)或介质缺陷(MD)。所述第一量度(例如，α1)是基于(i)信号值(例如，均衡器输入或输出信号值)及这些信号值的对应的期望信号值中的一方或两方的量值和(ii)所述信号值和期望信号值中的一方或两方的符号的。所述第二量度(例如，α2)是基于所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的量度而不基于所述信号或所述期望信号值中的任一方的符号的。然后比较这两个量度来确定缺陷区域是对应于TA还是MD。 | ||
| 申请公布号 | CN102201264A | 申请公布日期 | 2011.09.28 |
| 申请号 | CN201110068184.1 | 申请日期 | 2011.03.22 |
| 申请人 | LSI公司 | 发明人 | 杨少华;G·马修;韩洋;李宗旺;李元兴 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 刘倜 |
| 主权项 | 1.一种机器实现的对硬盘上的与热粗糙(TA)或介质缺陷(MD)相关联的缺陷区域进行分类的方法，所述方法包括：(a)该机器基于(i)与所述缺陷区域对应的信号值(x[n]或y[n])和相应的期望信号值(<img file="FDA0000051318320000011.GIF" wi="80" he="48" />或<img file="FDA0000051318320000012.GIF" wi="83" he="48" />)中的一方或两方的量值以及(ii)所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的符号产生第一量度；(b)该机器基于所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的量值而不基于所述信号值或所述期望信号值中任一方的符号来产生第二量度；(c)该机器比较所述第一量度和所述第二量度；以及(d)该机器基于步骤(c)的比较确定所述缺陷区域是与热粗糙相关联还是与介质缺陷相关联。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚 | ||