发明名称 DISPOSITIVO APTO PARA EL ANALISIS Y DETECCION CONTINUA DE PARTICULAS SUBMICROMETRICAS EN ENTORNOS INDUSTRIALES
摘要
申请公布号 ES1074908(Y) 申请公布日期 2011.09.26
申请号 ES20110030331U 申请日期 2011.03.25
申请人 CENTRO DE INVESTIGACIONES ENERGETICAS, MEDIOAMBIENTALES Y TECNOLOGICAS (CIEMAT) 发明人 ROJAS GARCIA, ENRIQUE;RODRIGUEZ MAROTO, JESUS JAVIER;SANZ RIVERA, DAVID;DORRONSORO ARENAL, JOSE LUIS;BARCALA RIVEIRA, MIGUEL JOSE;ALBERDI PRIMICIA, JAVIER;MOLINERO VELA, ANTONIO;CHERCOLES CATALAN, JAVIER
分类号 G01N15/02;B01L5/00 主分类号 G01N15/02
代理机构 代理人
主权项
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