| 主权项 |
一种用以点灯检测并修补面板之面板点灯测试机，包括：一底座；一面板承载座，设置于该底座上并沿着一预定方向于该底座上移动，该面板承载座包括一矩形框体、一承载板及复数个定位单元，该承载板设置于该矩形框体上，该些定位单元则分别设置于该承载板之侧边；至少一点灯测试部，设置于该矩形框体之内侧并包括一滑轨、复数个探针滑块及一探针滑块定位单元，该些探针滑块分别滑设于该滑轨上并分别包括复数个探针；该探针滑块定位单元具有复数个凹槽，该些探针滑块分别位于该些凹槽中；一支撑架，设置于该底座之上侧；以及一雷射修补单元，设置于该支撑架上并沿着另一预定方向于该支撑架上移动。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，其中该面板承载座更包括复数个压条，该些压条分别位于该承载板之上侧。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，其中该探针滑块定位单元具有一凸出部顶抵于该滑轨之一端而与该滑轨相结合。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，其中每一该探针滑块包括一滑块本体及一固定单元，且该滑块本体之形状与该凹槽之形状相对应。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，更包括一辅助支撑座设置于该矩形框体之一侧，并包括一面板支撑部及一辅助点灯测试部。如申请专利范围第5项所述之面板点灯测试机，其中该辅助点灯测试部包括一滑轨、复数个探针滑块及一探针滑块定位单元，该探针滑块定位单元具有复数个凹槽，该些探针滑块则分别位于该些凹槽中并分别包括复数个探针。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，更包括复数个真空吸附单元，设置于该承载板之下侧。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，更包括至少一光源单元，设置于该承载板之下侧。如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机，其中该雷射修补单元更包括一影像撷取单元。一种面板点灯测试机，系点灯检测一面板，包括：一底座；一面板承载座，设置于该底座上并沿着一预定方向于该底座上移动，该面板承载座包括一矩形框体、一承载板及复数个定位单元，该承载板设置于该矩形框体上，该些定位单元则分别设置于该承载板之侧边；以及至少一点灯测试部，设置于该矩形框体之内侧并包括一滑轨、复数个探针滑块及一探针滑块定位单元，该些探针滑块分别滑设于该滑轨上并分别包括复数个探针；该探针滑块定位单元具有复数个凹槽，该些探针滑块分别位于该些凹槽中。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，其中该面板承载座更包括复数个压条，该些压条分别位于该承载板之上侧并与该面板接触。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，其中该探针滑块定位单元具有一凸出部顶抵于该滑轨之一端而与该滑轨相结合。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，其中每一该探针滑块包括一滑块本体及一固定单元，且该滑块本体之形状与该凹槽之形状相对应。如申请专利范围第13项所述之面板点灯测试机，其中该固定单元为螺丝。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，更包括一辅助支撑座位于该面板承载座之一侧，并包括一面板支撑部及一辅助点灯测试部。如申请专利范围第15项所述之面板点灯测试机，其中该辅助点灯测试部包括一滑轨、复数个探针滑块及一探针滑块定位单元，该些探针滑块分别滑设于该滑轨上并分别包括复数个探针；该探针滑块定位单元具有复数个凹槽，该些探针滑块分别位于该些凹槽中。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，更包括复数个真空吸附单元，设置于该承载板之下侧。如申请专利范围第10项所述之面板点灯测试机，更包括至少一光源单元，设置于该承载板之下侧。一种利用如申请专利范围第1项所述之面板点灯测试机检测及修补面板的方法，包含：将该点灯测试部之复数个探针滑块定位于一特定位置上；提供一面板，并将该面板放置于该面板承载座上；提供一测试讯号于该面板以检测该面板是否有缺陷；若该面板有缺陷，定位该缺陷之位置；以及移动该雷射修补单元于该缺陷位置上方以修复该缺陷。如申请专利范围第19项所述之检测及修补面板的方法，其中将该点灯测试部之复数个探针滑块定位于一特定位置上之步骤更包含：使该些探针滑块在该滑轨上滑动；移动该探针滑块定位单元于该滑轨的一测，并将该些探针滑块分别对应位于该些凹槽中；移动该探针滑块定位单元直到顶抵于该滑轨之一端，以局限该些探针滑块于该特定位置中。如申请专利范围第19项所述之检测及修补面板的方法，更包含再次提供一测试讯号于该面板以检测该缺陷是否已修复。 |
