发明名称 位元线结构、半导体元件及其形成方法
摘要 本发明是有关于一种位元线结构、半导体元件及其形成方法。该半导体元件,包括基底、多个堆叠栅极结构、多个掺杂区、多个衬层、多个导体层、多个介电层及多条字元线。基底具有多个沟渠。堆叠栅极结构配置在沟渠之间的基底上。掺杂区配置于沟渠的侧壁及底部的基底中。衬层配置在堆叠栅极结构的至少部分侧壁及沟渠的侧壁上。导体层配置在沟渠中,且电性连接掺杂区。介电层配置于导体层上及堆叠栅极结构之间。字元线配置于基底上,且电性连接堆叠栅极结构。同时本发明还提供了一种半导体元件的形成方法及位元线结构。
申请公布号 CN102194822A 申请公布日期 2011.09.21
申请号 CN201010117363.5 申请日期 2010.03.01
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 李冠德;刘建宏;黄守伟;陈盈佐
分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I;H01L23/528(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁;张华辉
主权项 一种半导体元件,其特征在于其包括:一基底,该基底具有多个沟渠;多个堆叠栅极结构,配置在该些沟渠之间的该基底上;多个掺杂区,配置于该些沟渠的侧壁或底部的该基底中;多个衬层,配置在该些堆叠栅极结构的至少部分侧壁及该些沟渠的侧壁上;多个导体层,配置在该些沟渠中,且电性连接该些掺杂区;多个介电层,配置于该些导体层上及该些堆叠栅极结构之间;以及多条字元线,配置于该基底上,且电性连接该些堆叠栅极结构。
地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号