发明名称 光电测量装置
摘要 提供一种光电测量装置,该装置包括:具有内部纵向凹槽的型材(1);布置在所述型材(1)的所述纵向凹槽中、在两个端部附接至所述型材(1)的测量带(2);沿着所述型材(1)的所述纵向凹槽移动以便观察所述测量带(2)的读头(3);以及用于调整所述测量带(2)的长度的张力装置(4),所述测量带(2)在一个端部通过所述张力装置(4)附接至所述型材(1)。所述装置(100)还包括适于锁定所述张力装置(4)的锁定机构(6),并且所述锁定机构(6)和所述张力装置(4)被布置在所述读头(3)的路径之外。
申请公布号 CN102192694A 申请公布日期 2011.09.21
申请号 CN201110064830.7 申请日期 2011.03.17
申请人 菲高公司 发明人 何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨;胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯
分类号 G01B3/00(2006.01)I 主分类号 G01B3/00(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 党晓林;王小东
主权项 一种光电测量装置,该装置包括:具有内部纵向凹槽的型材(1);布置在所述型材(1)的所述纵向凹槽中、在两个端部附接至所述型材(1)的测量带(2);沿着所述型材(1)的所述纵向凹槽移动以便读取所述测量带(2)的读头(3);用于调整所述测量带(2)的长度的张力装置(4),所述测量带(2)在一个端部通过所述张力装置(4)附接至所述型材(1);以及适于相对于所述型材(1)锁定所述张力装置(4)的锁定机构(6),其特征在于,所述锁定机构(6)和所述张力装置(4)被布置在当从所述型材(1)除去所述读头(3)时所述读头(3)所沿的路径之外,从而不需要拆除所述张力装置(4)。
地址 西班牙基普兹卡