发明名称 |
一种PLC型光分路器测试方法 |
摘要 |
一种PLC型光分路器测试方法,它的光源由一根光源线输出,输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准,测试初始值p0即可;后光源线与待测PLC的单纤连接起来,PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式,由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作,可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。本发明提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单,测试效率,节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理,从而提高企业的生产效率和竞争力。 |
申请公布号 |
CN102192830A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN201010581746.8 |
申请日期 |
2010.12.10 |
申请人 |
上海霍普光通信有限公司 |
发明人 |
李德红;骆升;王承波;侯戟;乐志强 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 31224 |
代理人 |
吕伴 |
主权项 |
一种PLC型光分路器测试方法,其特征在于,将3波长光源经8通道功率计连起来,由一根光源线输出;将输出的上述光源线进上述8通道功率计的8个探测口分别校准,测试初始值即可;将后光源线与待测PLC的单纤连接起来,带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,上述带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入上述8通道光功率计中进行测试,上述PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接;以及然后选择PDL模式,可以对8通道对应三个波长的插入损耗和偏振相关损耗一次测试完成。 |
地址 |
200135 上海市浦东新区崮山路951号蓝星大厦西楼 |