发明名称 具有位置测量系统的光学探测器
摘要 本发明涉及一种光学探测器(200)和光学成像系统,包括:光导(201),具有近端和远端;致动装置,具有驱动线圈(204)和磁体,其附接到光导。通过经由驱动线圈供应驱动电流,产生磁通量,其与磁体相互作用,形成作用于光导的驱动力,造成光导远端的移位。包括位置测量线圈(205)的位置测量用于监控光导的位置,其中该位置测量线圈和所述驱动线圈的内部布置使得光导远端的所述移位造成内部布置的变化。电源通过所述驱动线圈供应附加的高频交变电流(AC),其在位置测量线圈中造成感应电压并且因而在位置测量线圈与所述驱动线圈之间产生磁耦合。位置测量装置借助于测量所述内部布置变化时得到的感应电压而测量光导远端的移位。该感应电压变化指示远端的位置。
申请公布号 CN102196762A 申请公布日期 2011.09.21
申请号 CN200980143023.5 申请日期 2009.10.21
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 C.A.赫策曼斯;B.H.W.亨德里克斯;W.C.J.比尔霍夫;A.L.布劳恩;A.E.德斯贾丁斯
分类号 A61B1/00(2006.01)I;A61B1/07(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I;A61B19/00(2006.01)I 主分类号 A61B1/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 李亚非;刘鹏
主权项 一种光学探测器(200),包括:‑ 光导(201),其具有近端和远端,‑ 致动装置(210),其包括至少一个驱动线圈(204a,204b)和磁体(203a,203b),其中任一个附接到光导(201),由此通过所述至少一个驱动线圈(204a,204b)供应驱动电流,产生磁通量,其与磁体(203a,203b)相互作用并且形成作用于光导(201)的驱动力,造成光导(201)远端的移位,‑ 位置测量系统(220),该位置测量系统包括:       ‑ 位置测量线圈(205),其用于监控光导(201)的位置,该位置测量线圈(205)和所述至少一个驱动线圈(204a,204b)的内部布置使得光导(201)远端的所述移位造成内部布置的变化,       ‑ 电源(207),其用于通过所述至少一个驱动线圈(204a,204b)供应附加的感测电流,该附加的感测电流在位置测量线圈(205)中造成感应电压并且因而在位置测量线圈(205)与所述至少一个驱动线圈(204a,204b)之间产生磁耦合,以及       ‑ 位置测量装置(208),其用于借助于测量所述内部布置变化时得到的感应电压而测量光导远端的移位,该感应电压指示远端的位置。
地址 荷兰艾恩德霍芬