发明名称 用于质谱分析的基底,质谱分析法和质谱分析仪
摘要 本发明提供了用于质谱分析的基底,质谱分析法和质谱分析仪。所提供的用于质谱分析的基底使得能够以高灵敏度进行高分子量化合物的检测,并且可以避免裂解,从而对于分析低分子量范围基本上不存在障碍。所述基底是在激光解吸/电离质谱分析中使用的用于质谱分析的基底,所述用于质谱分析的基底包含金属并且在其表面上具有多孔结构,其中,从包括羧基,磺酸基和氯化铵基的组中选择的至少一个官能团被共价键合到所述基底的表面。
申请公布号 CN101329301B 申请公布日期 2011.09.21
申请号 CN200810125183.4 申请日期 2008.06.19
申请人 佳能株式会社 发明人 吉村公博;宫崎和也;山田和弘
分类号 G01N27/64(2006.01)I;H01J49/26(2006.01)I 主分类号 G01N27/64(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 康建忠
主权项 一种在激光解吸/电离质谱分析中使用的用于质谱分析的基底,所述用于质谱分析的基底包含金属并且具有通过在基底的表面上形成突出部分而在基底的表面上形成的多孔结构,其中,从包括羧基,磺酸基和氯化铵基的组中选择的至少一个官能团被共价键合到所述基底的表面;其特征在于所述多孔结构是由铂和包含铂的多元金属中的一个形成的树枝状结构,所述铂是通过使氧化铂经历还原处理而获得的,所述包含铂的多元金属是通过使复合氧化物经历还原处理而获得的。
地址 日本东京