发明名称 |
伪装检测系统,伪装检测方法以及伪装检测程序 |
摘要 |
一种伪装检测系统,包括:成像单元(2),通过从第一角度对检查对象(12)进行成像,来获得第一图像,并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像,来获得第二图像;特征点坐标计算单元(101),从第一图像检测第一特征点,获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标,并且从第二图像检测第二特征点,获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标;特征点关联单元(102),将第一特征点与第二特征点相关联;特征变换单元(104),通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换,来获得变换后坐标;以及相似性确定单元(105),当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时,确定试图进行伪装。 |
申请公布号 |
CN102197412A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN200980142953.9 |
申请日期 |
2009.10.28 |
申请人 |
日本电气株式会社 |
发明人 |
铃木哲明 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I;G06T1/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种伪装检测系统,包括:成像单元,通过从第一角度对检查对象进行成像,来获得第一图像,并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像,来获得第二图像;特征点坐标计算单元,从第一图像检测第一特征点,获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标,并且从第二图像检测第二特征点,获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标;特征点关联单元,将第一特征点与第二特征点相关联;特征变换单元,通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换,来获得变换后坐标;以及相似性确定单元,当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时,确定试图进行伪装。 |
地址 |
日本东京都 |