发明名称 |
X射线检查装置及X射线检查方法 |
摘要 |
提供一种X射线检查装置及X射线检查方法。利用用于高速检查的X射线检查装置来实现不合格解析检查。X射线检查装置所执行的处理包括:执行高速拍摄的步骤(S315);执行重建处理来生成检查图像的步骤(S320);在自动检查(S325)合格时显示检查结果的步骤(S330);在自动检查不合格时切换拍摄条件来执行不合格解析用的拍摄的步骤(S340);执行不合格解析用的重建处理来生成图像的步骤(S345);输出不合格解析用的图像的步骤(S350)。 |
申请公布号 |
CN102192918A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN201110040041.X |
申请日期 |
2011.02.16 |
申请人 |
欧姆龙株式会社 |
发明人 |
杉田信治;益田真之;村上清 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01N23/18(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
浦柏明;徐恕 |
主权项 |
一种X射线检查装置,其利用多个检测面来接收透过对象物的检查对象区域的X射线,由此对上述检查对象区域的断层图像执行重建处理,其特征在于,具有:标准条件存储单元,其用于存储上述X射线检查装置的动作条件,该动作条件是为了检查对象物而使用的标准的动作条件,再检查条件存储单元,其用于存储与上述标准的动作条件不同的一个以上的再检查动作条件,该再检查动作条件用于上述对象物为不合格品时的再检查,X射线检测机构,其用于在上述多个检测面进行拍摄,X射线检测机构移动单元,其用于使上述X射线检测机构移动,对象物移动单元,其用于使上述对象物移动,X射线输出单元,其用于输出X射线,以使透过上述检查对象区域的X射线入射到位于一个检测面的上述X射线检测机构,控制单元,其用于对上述X射线检查装置的动作进行控制;上述控制单元具有:判定单元,其用于基于上述标准的动作条件,判定上述对象物是合格品还是不合格品,解析动作控制单元,其用于在上述对象物为不合格品时将上述X射线检查装置的动作条件从上述标准的动作条件切换为上述再检查动作条件,并基于上述再检查动作条件对上述X射线检查装置的动作进行控制。 |
地址 |
日本京都府京都市 |