发明名称 |
分析方法、使用其的放射线成像装置和执行其的分析程序 |
摘要 |
一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析方法包括以下步骤:从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息;从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息;基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数;和通过使用加权函数展开第一相位信息,产生第二相位信息。 |
申请公布号 |
CN102197302A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN200980142363.6 |
申请日期 |
2009.10.28 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
长井健太郎;田透 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
卜荣丽 |
主权项 |
一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析方法,该分析方法包括以下步骤:从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息;从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息;基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数;和通过使用加权函数展开第一相位信息,产生第二相位信息。 |
地址 |
日本东京 |