发明名称 |
一种防干扰的终端射频测试方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种防干扰的终端射频测试方法及系统,利用合理的测试线站点分布来增加相同测试类型的测试站点之间的距离,通过空间衰减来减少不同测试线之间上行信号对下行信号、或下行信号对上行信号的影响。利用频分方式分开测量上下行指标,减少各测试线之间上行信号对下行信号、或下行信号对上行信号的干扰。通过测试站点仪表发出帧同步信号,保证各测试线上相同通信模式的测试站点时间的定时同步,可以彻底解决测试线终端和站点仪表之间的互干扰。 |
申请公布号 |
CN102195719A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN201010115365.0 |
申请日期 |
2010.03.01 |
申请人 |
联芯科技有限公司 |
发明人 |
肖烈;樊锋 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I;H04B7/26(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 |
代理人 |
申健 |
主权项 |
一种防干扰的终端射频测试系统,包含至少两条测试线,每条测试线中包含至少两个测试站点,其中至少两个测试站点对应不同的测试类型,其特征在于,相同测试类型的测试站点在所述相邻两条测试线上的位置不同。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼 |